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半导体探针在IC测试治具中发挥什么作用？
半导体探针在IC测试治具中发挥什么作用？
半导体探针在集成电路测试治具中发挥什么作用？
1、半导体探针有助于提高IC测试治具的耐用性。
该半导体探针的结构设计使弹簧空间较传统探针更大，从而显著延长了使用寿命。
2、不间断电接触设计
当行程超过有效行程（2/3行程）或正常行程时，可保持较低的接触阻抗，从而消除因探头引起的虚假开路而导致的误判。
3、提高测试精度
IC测试针由于更加细小，通常直径小于0.58毫米，总长度不超过6毫米，因此在相同规格的产品中能够实现更高的测试精度。
IC测试模具通用性强，只需更换颗粒限位框，即可测试不同尺寸的颗粒；超短型进口双端探针设计使IC与PCB之间的数据传输距离较同类测试产品更短，从而确保测试结果更加稳定、频率更高。DDR3系列最高频率可达2000MHz。
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