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技术突破：台易电子获自动光学检测（AOI）技术专利，显著提升检测效率
台易电子再获一项AOI专利，以人工智能驱动的自动化取代人工检测，进一步夯实其全链条研发与质量管控能力。
中国东莞——2025年3月19日 ——据国家知识产权局最新披露， 东莞台易电子科技有限公司 已正式获得其自主研发的“的专利授权 探针式自动光学检测（AOI）设备 “（授权公告号：CN222625414U）。该专利标志着蓝益电子在半导体测试探针自动化检测领域迈出了重要一步。
解决精密测试中的瓶颈问题
半导体测试探针是超精密电子元件，传统上依赖人工目视检测。这种常规方法往往因效率低下和人为误差而受限，从而制约大规模生产。
LANYI最新获得专利的AOI系统通过采用振动料盘实现自动化上料、多角度光学尺寸测量以及先进的表面缺陷检测，彻底革新了这一工艺流程，打造出一条全自动化、高速运行的检测生产线。
核心技术优势：
- 360度全方位覆盖： 该系统能够对探头的两侧、顶部（呈45度角）以及底部进行高精度采集，从而确保尺寸偏差与表面缺陷得到全面、精准的识别。
- 效率提升与成本降低： 通过大幅缩短检测周期并提升检测精度，该系统有效降低了人工成本，并加速了人工智能与自动化制造的深度融合。
加强全产业链研发与生产
该专利的获批进一步巩固了蓝益电子从上游到下游的全产业链自主开发能力——涵盖 探针的研发、制造与质量控制 这一技术护城河为全球半导体市场实现大批量、高质量的规模化生产奠定了坚实基础。
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