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测试探头在电子测试中的应用
测试探针的类型包括PCB探针、ICT功能测试探针（汽车线束测试探针、电池探针、电流与电压探针、开关探针、电容器极性探针、高频探针）、BGA测试探针等。
根据不同的来源，可分为QA探针、ECT探针、IDI探针、INGUN探针、PTR探针、LEENON探针、CCP中国探针以及台湾UC友川探针。
测试探针的类型包括PCB探针、ICT功能测试探针（汽车线束测试探针、电池探针、电流与电压探针、开关探针、电容器极性探针、高频探针）以及BGA测试探针等。
根据不同的产地，可分为QA探头、ECT探头、IDI探头、INGUN探头、PTR探头、LEENON探头、CCP中国探头以及台湾UC优传探头。
探针是电气测试的接触介质，也是一类性能卓越的精密电子硬件器件。
测试探针，一种用于检测PCBA的探针。
表面镀金，内部采用高性能弹簧，平均使用寿命为3万至10万次。
目前，知名国外厂商包括：ECT、INGUN、QA、IDI、Semiprobe。探针材料：W、ReW、A+1。
1. 目前主要采用的材料为钨（W）和铼钨合金，其通常具有一定的弹性，易发生偏移且容易粘附金屑。因此需要多次清洗，同时探针长度也会因磨损而缩短。
2. A+级材质的免清洗针，该材质弹性优异，测试中不易变形，且不粘金粉，无需频繁清洗，使用寿命长。
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