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测试探针的分类
探针可根据电子测试用途进行分类：
A. 光学电路板测试探针：用于元器件安装前的电路板检测，仅具备开路与短路检测功能；国内生产的此类探针大多可替代进口产品。
B. 在线测试探针：在PCB电路板安装完成后进行检测的探针；优秀产品的核心技术仍掌握在外国企业手中。部分国产探针产品已成功研发，可替代进口探针产品。
C. 微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC测试探针。其核心技术仍掌握在外资企业手中，国内厂商虽积极参与研发，但实现量产的仅占少数。
探针的主要类型：悬臂式探针和垂直式探针。
悬臂探针：刀片型与环氧树脂型
垂直探头：垂直型
1. ICT系列探头
其通用直径范围为0.54毫米至1.27毫米，业内有“100mil”“75mil”“50mil”等标准规格；另有更特殊的直径仅为0.19毫米，主要用于在线电路测试和功能测试，亦称ICT测试与FCT测试。它也是目前应用较为广泛的一种探针。
2. 接口探针
非标准探针通常专为少数使用大型测试设备的客户定制，例如泰瑞达和安捷伦。用于连接测试设备与测试治具之间的接触点及接触面。
3. 微系列探头
两个测试点之间的中心距离通常为0.25毫米至0.76毫米。
4. 切换探头
单个探头具有两个电流。
5. 同轴探头
用于测试高频信号，配备屏蔽环时可在10 GHz以内进行测试，不带屏蔽环时则可在500 MHz以内进行测试。
6. 旋转探头
由于其本身具有较强的渗透性，该材料的弹性通常不高，常用于OSP处理后的PCBA测试。
7. 大电流探头
探针的直径介于2.54毫米至4.75毫米之间。最大测试电流可达39安培。
8. 半导体探针
其直径通常介于0.50毫米至1.27毫米之间，带宽大于10GHz，特性阻抗为50欧姆。
9. 电池与连接器触点
通常用于优化接触效果，具有良好的稳定性和较长的使用寿命。除上述类型外，还有温度探针、开尔文探针等，但应用较少。
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