测试探针的用途与类型

探针用于测试镀金表面，其内部采用高性能弹簧，平均使用寿命为3万至10万次。目前所用材料为钨和铼钨，这类材料通常具有良好的弹性，但容易发生偏移、吸附金粉，需多次清洁。随着使用次数的增加，探针针尖会逐渐磨损，寿命较为一般。接下来，我们来看一下检测探针的用途与类型。

探针用于测试镀金表面，其内部采用高性能弹簧，平均使用寿命为3万至10万次。目前所用材料为钨和铼钨合金，这类材料通常弹性较好，但易发生偏移、粘附金粉，需多次清洁。随着使用，探针针尖会逐渐磨损，寿命较为一般。接下来，我们来看看检测探针的用途与类型。

首先，探针测试的目的

免清洗针的材质具有良好的弹性，经测试不易变形，且不粘金粉、无需清洗，使用寿命长。按用途分类可分为：

1. 光学电路板：在安装前对电路板的元器件进行检测，仅限开路与短路检测，多数国产产品可替代进口产品；

2. 在线检测：对安装后的PCB电路板元器件进行测试；高端产品的核心技术仍掌握在外国企业手中。部分国产产品已成功研发，可替代进口产品。

3. 微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC测试。其核心技术仍掌握在外资企业手中，国内厂商虽积极参与研发，但实现量产的仅占少数。

其次，测试探针测试类型

1. 悬臂式与垂直式。

2. 悬臂：叶片式。

3. 环氧树脂的类型。

4. 垂直：垂直。

5. 信息与通信技术系列。

一般直径为2.54毫米至1.27毫米，行业标准规格有100密尔、75密尔、50密尔等；较为特殊的直径仅为0.19毫米。支持在线电路检测与功能测试，亦称ICT检测和FCT检测，是目前应用较为广泛的探针类型之一。非标探针通常面向少数定制大型测试设备的客户，如Teradyne、Agilent等。用于测试机与测试治具的接触点及接触面，两检测点之间的中心距一般为0.25毫米至0.76毫米。

开关具有两个电流通道。该波检测器可对高频信号同轴电缆进行检测，包括内置屏蔽环的同轴电缆（频率范围至10GHz），以及无屏蔽环的同轴电缆（频率范围至500MHz）。由于旋转探针本身具有较强的穿透性，且OSP N工艺处理后的PCBA测试较为常见，其弹性通常不高。大电流探针的直径范围为2.54mm至4.75mm，检测电流最高可达39安培。

半导体探针的直径一般为0.50毫米至1.27毫米，带宽大于10GHz，具有50欧姆的特性。电池与连接器的接触端通常经过优化设计，以确保良好的接触性能、优异的稳定性及较长的使用寿命。除上述类型外，还有温度探针和开尔文探针，但后者应用较少。

它可分为开路检测、短路检测、电阻检测、电容检测、二极管检测、三极管检测、场效应管检测、IC引脚检测等。此外，还可对各类通用及专用元器件的漏电、错装、参数值偏差、焊点虚焊、电路板开路或短路等故障进行诊断，并通过打印机或显示屏准确提示用户具体是哪个部位或哪处存在开路或短路问题。